技術(shù)文章_第(41)頁(yè)－寧波瑞柯微智能科技有限公司

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2015-5

粉體綜合測(cè)試儀的安裝，其實(shí)不難，相信通過(guò)本文我們的介紹，您一看便知!粉體綜合測(cè)試儀的安裝，對(duì)于工作環(huán)境和安裝位置，安裝人員都有一定的要求。具體如下：一、粉體綜合測(cè)試儀工作環(huán)境和安裝位置的要求1)溫度在5℃—40℃之間，相對(duì)濕度小于85%。2)環(huán)境整潔無(wú)煙塵。3)周圍沒(méi)有機(jī)械振動(dòng)源或電磁干擾源。4)工作臺(tái)必須牢固、水平，高度適當(dāng)。二、粉體綜合測(cè)試儀安裝人員的要求本系統(tǒng)的安裝人員應(yīng)先閱讀本說(shuō)明書(shū)，然后再進(jìn)行安裝。如有疑問(wèn)請(qǐng)立即與廠家取得，請(qǐng)求廠家提供。粉體綜合測(cè)試儀拆箱步驟及注意...

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2015-5

粉末流動(dòng)性測(cè)試儀的意義和測(cè)量參數(shù)

粉末流動(dòng)性測(cè)試儀采用固定的接料筒配置不同出口孔徑之漏斗來(lái)解決不同粉體因粉體本身物性而流動(dòng)性差，無(wú)法流動(dòng)的現(xiàn)象。粉體結(jié)拱是生產(chǎn)中的常見(jiàn)問(wèn)題，直接影響到粉體的流動(dòng)特性，甚至影響到產(chǎn)品質(zhì)量。粉末的流動(dòng)性測(cè)量在粉體工程設(shè)計(jì)中應(yīng)用范圍很廣，粉末的流動(dòng)性對(duì)其生產(chǎn)、輸送、儲(chǔ)存、裝填以及工業(yè)中的粉末冶金、醫(yī)藥中不同組分的混合、在水泥廠中粉體的重力流動(dòng)、農(nóng)林業(yè)中殺蟲(chóng)劑的噴撒等工藝過(guò)程都具有重要的意義，因此粉體流動(dòng)性能的測(cè)量就變得尤為重要。影響粉體流動(dòng)性的因素非常復(fù)雜，粒徑分布和顆粒形狀對(duì)粉體的...

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2015-5

粉末流動(dòng)性測(cè)試儀的三種分析方法

粉末流動(dòng)性測(cè)試儀對(duì)于粉末流動(dòng)性的檢測(cè)通常有三種方法：◆通過(guò)一個(gè)孔來(lái)流動(dòng)◆剪切池◆固定的一個(gè)角度我們一一來(lái)看下：一、圓筒附件(通過(guò)一個(gè)孔來(lái)流動(dòng))zui常用的方法是：一定量的粉末通過(guò)已知大小孔徑的時(shí)間。當(dāng)粉末流過(guò)孔徑時(shí)，很多十分重要的因素影響我們對(duì)其判斷，甚至超過(guò)了粉末本身的性能特征，這些因素包含：測(cè)試設(shè)備的材質(zhì)、形狀;粉末堆積的直徑、高度和孔的形狀。藥典中建議使用圓形的容器，以增強(qiáng)粉末之間的流動(dòng)，同時(shí)盡量減少容器材質(zhì)差異性對(duì)粉末流動(dòng)性的影響。即使這樣，該技術(shù)也只適合非粘性粉末的...

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2015-5

絕緣材料高溫表面和體積電阻率測(cè)試系統(tǒng)符合的標(biāo)準(zhǔn)要求

適用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T22042-2008《服裝防靜電性能表面電阻率試驗(yàn)方法》；EN1149-1-1995《防護(hù)服靜電性能部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》；GB/T1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》（與標(biāo)準(zhǔn)IEC93-1980等效）；FZ/T64013-2008《靜電植絨毛絨》；SJ/10694-2006《電子產(chǎn)品制造與應(yīng)用系統(tǒng)防靜電檢測(cè)通用規(guī)范》6.1及ASTMD257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》要求制作。GB/T2439-2001《硫化橡膠或...

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2015-3

硅片電阻率測(cè)量方法，四探針?lè)阶鑳x原理

本機(jī)采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量，更加準(zhǔn)確.按照硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTMF84）及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?、GB/T1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)...

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2015-1

粉末電阻率測(cè)試儀組成結(jié)構(gòu)功能說(shuō)明

粉末電阻率測(cè)試儀是為了適應(yīng)當(dāng)前迅速發(fā)展中的高分子半導(dǎo)電納米材料電阻率測(cè)試需要,參照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的。粉末電阻率測(cè)試儀適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén)、是檢驗(yàn)和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質(zhì)量的一種重要工具。儀器直接采用數(shù)字顯示。儀器的可靠性和穩(wěn)定性大大增強(qiáng)，更方便于用戶，而且價(jià)格低廉、實(shí)惠。配置不同的測(cè)試架可以對(duì)半導(dǎo)體粉末、高分子納米粉末進(jìn)行電阻、電阻率多用途的測(cè)量。適用于有機(jī)、無(wú)機(jī)粉末材料(包括納米級(jí))的電阻率測(cè)量，特別適合于太陽(yáng)能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測(cè)...

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2014-12

超細(xì)粉體的粉體特性和表面特征

超細(xì)粉體的性能與普通的顆粒是有很大的不同的。但顆粒的尺度但到亞微米級(jí)尤其是納微米級(jí)時(shí)，其表面的原子排列和電子分布結(jié)構(gòu)及晶體結(jié)構(gòu)較之普通顆粒均有明顯變化，產(chǎn)生了有別于普通顆粒的表面效應(yīng)、小尺寸效應(yīng)、量子效應(yīng)和量子隧道效應(yīng)，因此，在某些特殊場(chǎng)合會(huì)具有優(yōu)異的物理、化學(xué)及表面與界面性質(zhì)。當(dāng)顆粒尺寸處于微米級(jí)時(shí)，雖然去物理化學(xué)性能與普通顆粒的物理化學(xué)性質(zhì)相差不大，但微米級(jí)顆粒的比表面積大、表面能高，表面與界面性質(zhì)發(fā)生了很大的變化。如果現(xiàn)貨單一的微米級(jí)的超細(xì)粉的物理化學(xué)性能與普通顆粒相差...

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2014-12

接觸壓降測(cè)試儀如何檢測(cè)電能計(jì)量誤差

接觸壓降測(cè)試儀為測(cè)試產(chǎn)品提供恒定不變的測(cè)量電流，提高測(cè)量精度，保證了產(chǎn)品質(zhì)量。該儀器還具有上限電壓降參數(shù)設(shè)置，聲光報(bào)警功能。外形美觀大方，顯示清淅直觀，可靠性好等優(yōu)點(diǎn)。專業(yè)用于測(cè)試各種開(kāi)關(guān)、繼電器、接觸器、接線座、接線連接器等接觸點(diǎn)兩端間的實(shí)際工作電壓降。是科研單位、計(jì)量測(cè)試部門(mén)、生產(chǎn)企業(yè)等單位的*儀器。由于電能計(jì)量綜合誤差過(guò)大是電能計(jì)量中普遍存在的一個(gè)關(guān)鍵問(wèn)題，電能計(jì)量綜合誤差是由電壓互感器的合成誤差、電流互感器的合成誤差、電度表的誤差、電壓互感器二次導(dǎo)線壓降所引起的計(jì)量誤...

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