技術(shù)文章_第(39)頁－寧波瑞柯微智能科技有限公司

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2015-9

粉體特性綜合測試儀是一種多功能的粉體特性測試儀。它的存在具有重要的意義，粉體特性綜合測試儀用于對粉體流動特性進行研究和表征的領(lǐng)域。粉體特性綜合測試儀主要用于大專院校、科研機構(gòu)的材料科學研究領(lǐng)域，在與粉體流動特性相關(guān)的生產(chǎn)領(lǐng)域也將有廣泛的應(yīng)用前景。粉體特性綜合測試儀研制成功為粉體特性測試的普遍開展提供了一個新的測試手段。粉體特性綜合測試儀的測試項目包括粉體的振實密度、松裝密度、安息角、抹刀角、崩潰角、差角、分散度、凝集度、流動度等項目。粉體特性綜合測試儀具有一機多用、操作簡便、...

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2015-9

電阻率測試儀技術(shù)介紹

電阻率測試儀是電阻率監(jiān)視儀，電阻率和溫度同時顯示，并具有電阻率低限報警功能的在線面板式儀表，廣泛應(yīng)用于制藥、電子、化工等行業(yè)對工業(yè)流程水質(zhì)的在線監(jiān)測。它采用了單片機技術(shù)，對純水的溫度系數(shù)、電極常數(shù)及電阻率低限報警點通過面板上的按鍵自由設(shè)置，是各種中小型純水設(shè)備的理想配套儀表。寧波江北瑞柯偉業(yè)儀器生產(chǎn)的FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的標準（ASTMF84）及標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T155...

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2015-9

半導體電阻率測試儀穩(wěn)定性強，適用范圍廣

半導體電阻率測試儀是為了適應(yīng)當前迅速發(fā)展中的高分子半導電納米材料電阻率測試需要，參照有關(guān)標準設(shè)計的。半導體電阻率測試儀是根據(jù)四探針原理，適合半導體器材廠，材料廠用于測量半導體材料(片狀、棒狀)的體電阻率，方塊電阻(簿層電阻)，也可以用作測量金屬薄層電阻，經(jīng)過對用戶、半導體廠測試的調(diào)查，根據(jù)美國ASTM標準的規(guī)定，在電路和探頭方面作了重大的修改和技術(shù)上的許多突破，它更適合于半導體器材廠工藝檢測方面對中值、高阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測量需要，成為普及型的電阻率測試儀，具有...

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2015-8

接觸壓降測試儀功能強大

接觸壓降測試儀專業(yè)用于測試各種開關(guān)、繼電器、接觸器、接線座、接線連接器等接觸點兩端間的實際工作電壓降。接觸壓降測試儀是科研單位、計量測試部門、生產(chǎn)企業(yè)等單位的*儀器。接觸壓降測試儀的主要功能：1.通過無線的方式自動完成三相三線或三相四線制的電壓互感器二次壓降的測量，不需要普通方式中要在儀器到測試遠端鋪設(shè)一條很長的電壓測試線，這樣可避免由于線路過長引起的不必要的短路故障，而這正是電壓互感器zui應(yīng)避免的;而且有時這條電壓測試線需要穿越公路，如無人看守來往車輛會將線軋壞，本儀器有...

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2015-8

什么是粉體流動測試儀?

顆粒狀物料是由尺寸大小從亞微顆粒至大石塊和礦石的各類固體物質(zhì)組成。在粉體測試中，至少90%的樣品須由直徑小于1mm的顆粒組成。很多實例中，更大顆粒的粉體仍舊可以通過篩選1mm的物料并測試這些纖細部分而獲得有效分析。（纖細物料決定了包含有大尺寸顆粒物料的整體流動特性）Brookfield用來命名這類物料的專業(yè)術(shù)語稱為“粉體”，因此儀器及命名為“粉體流動測試儀”。粉體流動測試儀性能特點PFT粉體流動測試儀為工業(yè)處理設(shè)備中的粉體流動行為提供了快捷而容易的分析。PFT粉體流動測試儀不...

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2015-8

體積電阻測試儀原理及安全操作準則

體積電阻測試儀工作原理：根據(jù)歐姆定律，被測電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統(tǒng)的高阻計的工作原理是測量電壓V固定，通過測量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無窮大時，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低整個刻度是非線性的。又由于測量不同的電阻時，其電壓V也會有些變化，所以普通的高阻計是精度差、分辨率低。體積電阻測試儀高阻測量一定要嚴格按使用步聚進行，否...

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2015-7

粉體綜合測試儀的標準測量指標

粉體綜合測試儀主要應(yīng)用于制藥、電池材料、粉末涂料、非金屬礦、石墨、食品、有色金屬、粉體工程設(shè)計、粉體物性研究以及教學等領(lǐng)域。粉體綜合測試儀的特點是一機多用，操作簡便，重復(fù)性好，測定條件容易改變，配套完整等。粉體物性是粉體材料的基本特性，研究粉體物性對粉體生產(chǎn)、加工、包裝、運輸、儲存、應(yīng)用等具有重要的實際意義。粉體綜合測試儀是用來測定粉體物性的儀器，具體測試項目包括休止角、崩潰角、平板角、振實密度、松裝密度、分散度等。粉體綜合測試儀的標準測量項目：1.休止角：粉體堆積層的自由表...

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2015-7

四探針電阻率測試儀的檢定要求和環(huán)境

電阻率是反映半導體材料導電性能的重要參數(shù)之一。測量電阻率的方法很多，四探針法是一種廣泛采用的標準方法。它的優(yōu)點是設(shè)備簡單、操作方便，度高，對樣品的形狀無嚴格要求。電阻率測試儀是用來測量半導體材料及工藝硅片的電阻率，或擴散層及外延層方塊電阻的測量儀器。一般的四探針電阻率測試儀均已配置厚度的修正，通過厚度數(shù)值的設(shè)置，計算出不同的樣品厚度對電阻率的影響。四探針電阻率測試儀檢定的技術(shù)要求1、整體方法檢定電阻率測試儀的標準樣片，表面應(yīng)沒有任何臟物，長期使用應(yīng)注意定期清洗(按標準樣片使用...

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